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二手FEI-SEM電鏡 FEI-QUANTA250 FEI Quanta 系列包括六款可變壓力和環境掃描電子顯微鏡 (ESEM™)。所有這些產品均可滿足工業工藝控制實驗室、材料科學實驗室和生命科學實驗室的多種樣本和成像要求。
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二手電鏡 二手日本電子JSM-IT300日本電子掃描電鏡JSM-IT300型是一款高性能,多功能,多用途的鎢燈絲掃描電鏡。性的前衛性外觀設計還特別吸引眼球。
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供應日立(二手)場發射掃描電鏡SEM 430型號掃描電鏡是一款具備超高分辨率的熱場發射掃描電鏡,主要用于獲得納米尺寸級別的樣品表面形貌信息,可在高真空下實現高壓和低壓的超高分辨率形貌檢測。配備兩種物鏡模式(浸沒式和無場式)。配備紅外CCD檢測相機,極靴內二次電子檢測器,通用ET二次電子檢測器,低真空二次電子檢測
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日立二手電鏡SEM+EDX掃描電子顯微鏡詳細信息該設備具有新研制的電子光學系統和自動化功能顯示系統有全屏顯示,無閃爍,高像素和實時圖像顯示等優異的性能,它還可以實時信號混合并同時顯示兩個不同的檢測器觀測到的互不相同的樣品信息。
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二手鎢燈絲電鏡,二手SEM;掃描電鏡分辨率:高真空二次電子像3.0nm(30KV) 掃描電鏡放大倍數:5×~1000000×,連續可調 能譜儀分辨率:MnKα峰的半高寬優于127eV; 能譜儀元素測試范圍:Be4— Pu94
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二手高分辨率場發射電鏡是電子顯微鏡的一種,掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段,可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像,廣泛用于生物學、醫學、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質礦物、商品檢驗、產品生產質量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。可以觀察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征。
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二手場發射顯微鏡SEM場發射掃描電子顯微鏡是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率,能做各種固態樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。具有高性能x射線能譜儀,能同時進行樣品表層的微區點線面元素的定性、半定量及定量分分析,具有形貌、化學組分綜合分析能力。
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二手場發射電鏡,二手SEM場發射掃描電鏡通用性強,可廣泛應用于納米材料、金屬材料、半導體材料、化學化工、醫學及生物學領域,可高效觀察包括非導體樣品及強磁性樣品等。
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