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二手FEI-QUANTA 250掃描電鏡掃描電鏡觀察樣品表面的形貌，分析系統(tǒng)用聚焦電子束在樣品表面逐點(diǎn)掃描成像，成像信號(hào)可以是二次電子，背散射電子或吸收電子。電子槍發(fā)射出的電流激發(fā)到樣品表面產(chǎn)生二次電子，通過(guò)信號(hào)收集和信號(hào)轉(zhuǎn)換到達(dá)屏幕，可以看到樣品表面的同步掃描照片，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品表面的形貌的觀察。

二手日本電子（SEM）IT-300提供高畫(huà)質(zhì)圖像，能滿足您對(duì) W-SEM 機(jī)型的期待，鏡筒設(shè)計(jì)和掃描系統(tǒng)使得不導(dǎo)電樣品的圖像質(zhì)量有所提高

二手蔡司場(chǎng)發(fā)射電鏡SEM+EDX SUPRA25系列產(chǎn)品配備有經(jīng)過(guò)改進(jìn)的第三代GEMINI®鏡筒、概念新穎的樣品臺(tái)、智能化硬件控制板和新型高效率的透鏡內(nèi)二次電子探測(cè)器。SUPRA™系列場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡是卡爾蔡司半導(dǎo)體事業(yè)部的納米技術(shù)系統(tǒng)部向市場(chǎng)推出的功能最多的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡。具有當(dāng)前儀器所具有的所有特征：如在圖像質(zhì)量超高分辨率、工作電壓切換方便、出色的束流穩(wěn)定性、全分析型樣品室。

二手日立+日本電子掃描電鏡掃描電子顯微鏡SEM是一種電子顯微鏡，它通過(guò)用聚焦電子束掃描表面來(lái)產(chǎn)生樣品的圖像。電子與樣品中的原子相互作用，產(chǎn)生包含樣品表面形貌和成分信息的各種信號(hào)。電子束的掃描路徑形如光柵，將電子束的位置與檢測(cè)信號(hào)的強(qiáng)度相結(jié)合即可輸出圖像。在最常見(jiàn)的SEM模式下，探測(cè)器可以檢測(cè)到由電子束轟擊原子所激發(fā)的二次電子。不考慮其它因素，可以檢測(cè)到的二次電子數(shù)以及信號(hào)強(qiáng)度取決于樣品形貌。

二手SEM掃描電子顯微鏡SU3500所具備的新型的模擬圖像和改進(jìn)后的電子光學(xué)系統(tǒng)以及圖像顯示算法使之能夠在低加速電壓下獲得更高的分辨率。3KV電壓時(shí)，SE圖像可達(dá)7nm,5KV電壓時(shí)，BSE圖像可達(dá)10nm。最新開(kāi)發(fā)的自動(dòng)多級(jí)電子槍偏壓機(jī)構(gòu)能夠在不降低電子束大小的情況下，在一定范圍內(nèi)的常用加速電壓下增加發(fā)射電流。因此，此款產(chǎn)品與S-3400N相比，噪音得以大幅減少，成像更加清晰。

二手日立電鏡SU-3500日立高新高畫(huà)質(zhì)的鎢燈絲掃描電鏡SU3500, 圖象質(zhì)量更進(jìn)一步。通過(guò)高畫(huà)質(zhì)提升掃描電鏡的分析能力和操作性, 凝聚日立*進(jìn)科技“。日立高新鎢燈絲掃描電鏡SU3500具有實(shí)現(xiàn)了3kV加速電壓7nm分辨率”的全新電子光學(xué)系統(tǒng), 可實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)立體成像的“實(shí)時(shí)立體觀察功能 以及更高檢測(cè)效率的 “UVD超高靈敏度可變壓力檢測(cè)器。

二手日本電子JSM-IT200是一款更簡(jiǎn)潔、更易于使用且性價(jià)比高的掃描電子顯微鏡。 使用初學(xué)者易懂的樣品交換導(dǎo)航，可以輕松地從樣品臺(tái)搜索視野并開(kāi)始觀察SEM圖像。Zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，Live Analysis*²可以不用特意分析就能實(shí)時(shí)獲取元素分析結(jié)果，SMILE VIEWTM Lab能綜合編輯觀察和分析報(bào)告等，使它成為一個(gè)分析業(yè)務(wù)的軟件。

二手日本電子SEM+EDX JSMIT300掃描電子顯微鏡經(jīng)過(guò)改進(jìn)照射系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和信號(hào)處理系統(tǒng)，不僅能觀察高質(zhì)量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺(tái)進(jìn)行高通量的直觀操作。JSM-IT300 提供高畫(huà)質(zhì)圖像，能滿足您對(duì)W-SEM機(jī)型的期待，新的鏡筒設(shè)計(jì)和掃描系統(tǒng)使得不導(dǎo)電樣品的圖像質(zhì)量有了顯著的提高。

二手蔡司場(chǎng)發(fā)射電鏡SUPRA 40VP是一款高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，擁有第三代GEMINI 鏡筒，可變壓強(qiáng)性能加上多種納米工具的使用，不用花費(fèi)大量時(shí)間，使高分辨率成像和非導(dǎo)體樣本的分析成為可能，超大的樣品室適合各種類型探頭及配件的選擇。該場(chǎng)發(fā)射電鏡適用于材料領(lǐng)域、失效分析、過(guò)程控制，納米技術(shù)等。

二手電鏡 二手鎢燈絲電鏡觀察樣品表面的形貌，分析系統(tǒng)用聚焦電子束在樣品表面逐點(diǎn)掃描成像，成像信號(hào)可以是二次電子，背散射電子或吸收電子。電子槍發(fā)射出的電流激發(fā)到樣品表面產(chǎn)生二次電子，通過(guò)信號(hào)收集和信號(hào)轉(zhuǎn)換到達(dá)屏幕，可以看到樣品表面的同步掃描照片，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品表面的形貌的觀察。