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ROHS熒光分析儀edx-7000/8000滿足所有領域不同的應用
 
電子·電氣
·RoHS指令、無鹵素等篩選分析
·半導體、存儲裝置、液晶、太陽能電池等各種薄膜分析
 
汽車·機械
·應對ELV指令的篩選分析
·各種機械零部件結構分析及鍍層厚度、化學合成外膜附著量的檢測
 
鋼鐵·非金屬
·原材料、合金、焊錫、貴金屬的主要成分、殘余成分的分析
·爐渣的組成分析
 
礦業
·選礦工藝的成色鑒別分析
 
窯業
·陶瓷、水泥、玻璃、磚、粘土的分析
 
石油·石油化學
·油中硫元素的分析
·潤滑油中各種添加元素及混入元素的分析

化學工業
·無機·有機原料和產品分析
·催化劑、顏料、涂料、橡膠、塑膠的分析
 
環境
·土壤、排水、焚燒灰、過濾、PM2.5等成分分析
 
醫藥
·合成時的殘留催化劑分析
·原藥中不純物分析、異物分析
 
農業·食品
·土壤、肥料、植物的分析
·食品的原料分析、添加元素管理、混入異物的分析
 
其它
·考古學樣品及寶石成分分析
  玩具·日用品中有害重金屬元素測定等

460mm寬的緊湊身材，配備大容量的樣品室
 460mm寬的緊湊身材，與我公司以往機型相比尺寸減少20%。
而緊湊的機身，卻擁有zui大可放置200（W）×275（D）×約100（H）mm樣品的大型樣品室。

“初次見面”也可輕松上手的軟件PCEDX Navi
為了使X射線熒光分析貼近每一個實驗室，深入淺出的軟件PCEDX Navi應運而生。
憑直覺操作的淺顯簡單畫面，使從初學者到專家的每一位用戶都可以體驗到便捷的操作環境。

的分析性能
配置高性能半導體檢測器，與*化的光學系統和一次濾光片的組合，實現*的高靈敏度。從輕元素到重元素，全范圍輕松應對。與以往配置液態氮的半導體檢測器相比，檢測下限可提升1.5～5倍，可應對高要求的研究分析。
分辨率出色，分析多元素組成的樣品可降低譜峰重疊的影響，提升分析結果的可靠性。另外，與以往機型相比可以在更短的時間內完成精確分析，高通量檢測器zui大可提高10倍，適用于高速分析的產品管理。
無需液態氮的電子制冷半導體檢測器有效控制運行成本，有利于提高產品維護性能。

的通用性
從微小樣品到大型樣品，從粉末樣品到液體樣品，靈活應對各類樣品。
配備進行輕元素的高靈敏度分析時所需的真空檢測單元、氦氣置換檢測單元，以及可實現自動連續測定的12位樣品轉臺(選購件)。

裝置規格
測定原理   X射線熒光分析方法
測定方法   能量色散型
測定對象   固體·液體·粉末
測定范圍   ₁₁Na - ₉₂U (EDX-7000) ₆C - ₉₂U (EDX-8000)
樣品室尺寸 zui大300（W）×275（D)×約100（H)mm
一次濾光片 5種（含OPEN為6種）自動切換
檢測器類型 SDD
液態氮供給 不要（電子制冷） 
定量分析   工作曲線法、共存元素校正、FP法、薄膜FP法、背景FP法

ROHS熒光分析儀edx-7000/8000FDA 21CFR Part11應對系統

樣品無損且無需前處理，通過X射線熒光，即可簡單輕松實現對醫藥品中雜質的管理

·分析只需4 Step！

·遵照制藥界的FDA 21CFR Part11標準

·以提升效率為目標，使用LabSolutions CS進行數據管理

·通過X射線熒光可以實現對雜質的分析

分析只需4 Step！ 

       組裝容器                                             插入樣品                                     放置在分析裝置上                              開始測定

主要特長

遵照制藥界的FDA 21CFR Part11標準

 遵照FDA 21CFR Part11具有如下功能。

·安全功能

·用戶管理功能

·操作日志，逐位跟蹤日志的生成功能

·PDF生成功能

·驗證功能

安全功能

通過ID/密碼進行用戶認證，對具有權限的用戶開放操作履歷記錄、界面鎖定等功能。

逐位跟蹤日志的生成功能

可以生成分析裝置設定更改履歷和用戶的操作履歷等跟蹤日志。

以提升效率為目標，使用LabSolutions CS進行數據管理

包括其它分析裝置的的全部分析數據都可以通過服務器電腦的數據庫進行管理，因此聯網后任何電腦都可讀取數據。不論何處都可實現數據管理統合化。

使用EDX-7000/8000，輕松實現對醫藥品中的金屬進行分析 

如圖所示，制成添加了Pt的纖維素粉末標準樣品，在0～20ppm的范圍內形成6點工作曲線。樣品量僅為100mg，平均1樣品測定20分鐘，就可如下表得到良好的標準偏差（RMS）和直線性，從而實現高正確度的分析。

                             纖維素粉末100mg中Pt工作曲線

可明顯檢測出約30ppm的Pt峰。另外還檢測出約5ppm微量混入的As。

                            混入Pt和As的纖維素粉末樣品的EDX光譜

進行超輕元素分析

EDX-8000搭載的SDD檢測器窗口采用極薄的薄膜特殊材料，能夠檢測碳（C）、氧（O）、氟（F）超輕元素。